Autor: Firma Park Systems Europe

International Symposium on Failure Analysis and Material Testing – FAMT 2022 (Konferenz | Online)

International Symposium on Failure Analysis and Material Testing – FAMT 2022 (Konferenz | Online)

Fraunhofer IISB and Park Systems are announcing the call for abstracts as well as opening registration for the 2nd International Symposium on Failure Analysis and Material Testing – FAMT 2022.

 This symposium gathers the professionals from the electronic industry to discuss innovative testing methods at nanoscale and tools for physical failure analysis of the future. 

 

The event is going to be held in a hybrid form: 

ON-SITE VENUE: Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, Erlangen, Germany

VIRTUAL PLATFORM: Zoom

 

he design complexity of electronic components and the heterogeneity of new materials constantly increase with decreasing device sizes. New-engineered products need to secure a high level of reliability, sustainability, and longevity to meet the international quality standards. Detection and classification of nanometer-sized material defects require characterization methods with a resolution in the nanometer range. Are you experiencing similar challenges in your daily work? Join us on July 22, 2022! 

Eventdatum: Freitag, 22. Juli 2022 08:30 – 13:30

Eventort: Online

Firmenkontakt und Herausgeber der Eventbeschreibung:

Park Systems Europe
Schildkroetstrasse 15
68199 Mannheim
Telefon: +49 (621) 490896-50
http://www.parksystems.com

Für das oben stehende Event ist allein der jeweils angegebene Herausgeber (siehe Firmenkontakt oben)
verantwortlich. Dieser ist in der Regel auch Urheber der Eventbeschreibung, sowie der angehängten
Bild-, Ton-, Video-, Medien- und Informationsmaterialien. Die United News Network GmbH
übernimmt keine Haftung für die Korrektheit oder Vollständigkeit des dargestellten Events. Auch bei
Übertragungsfehlern oder anderen Störungen haftet sie nur im Fall von Vorsatz oder grober Fahrlässigkeit.
Die Nutzung von hier archivierten Informationen zur Eigeninformation und redaktionellen Weiterverarbeitung
ist in der Regel kostenfrei. Bitte klären Sie vor einer Weiterverwendung urheberrechtliche Fragen mit dem
angegebenen Herausgeber. Eine systematische Speicherung dieser Daten sowie die Verwendung auch von Teilen
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2022 NanoScientific Forum Europe (Konferenz | Online)

2022 NanoScientific Forum Europe (Konferenz | Online)

NSFE series is an open European AFM User Forum focusing on sharing and exchanging the cutting-edge research for both materials and life science disciplines using Atomic Force Microscopy (AFM). 

The research focus of the 5th NSFE 2022 will be laid on wide range of SPM applications and techniques that empower to transform life standards. We will talk about emerging nanomaterials for advanced technologies, functional surfaces and hybrid materials as well as innovative methods in nanotechnology and correlative microscopy. This edition is open to global audience and will be held online.

 

Topics

  • Emerging Nanomaterials for Advanced Technologies

  • Functional Surfaces

  • Advanced Techniques and Automation in SPM

  • Correlative Microscopy

SPM Methods

  • Nanomechanical and Electrical Characterization

  • Characterization of soft materials in liquid environment

  • Advanced Imaging

  • High resolution imaging

  • Automation in AFM

Scientific Committee

  • Prof. Dr. Lukas Eng, Technical University Dresden
  • Dr. Bizan Balzer, University Freiburg
  • Dr. Tobias Cramer, University of Bologna

  • Dr. Ilka Hermes, Leibniz Institute of Polymer Research Dresden

  • Dr.-Ing. Lisa Ditscherlein, TU Bergakademie Freiberg

  • Prof. Brian Rodriguez, 
    University College Dublin

Eventdatum: 06.10.22 – 07.10.22

Eventort: Online

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International Symposium on Failure Analysis and Material Testing – FAMT 2021 (Konferenz | Online)

International Symposium on Failure Analysis and Material Testing – FAMT 2021 (Konferenz | Online)

Advancing miniaturization shapes our modern, high-tech world. The design complexity of electronic components and the heterogeneity of new materials constantly increase with decreasing device sizes. New-engineered products need to secure a high level of reliability, sustainability, and longevity to meet the international quality standards. Detection and classification of nanometer-sized material defects require characterization methods with a resolution in the nanometer range.

Are you experiencing similar challenges in your daily work? Join us on July 1, 2021!

This symposium gathers the professionals from the electronic industry to discuss innovative testing methods and tools for failure analysis of the future.

The program will include keynote talks ranging from case studies in the semiconductor device applications, innovative methods and tools for material characterization and defect review, emerging applications in the electronic industry up to future methods for increasing line productivity, efficiency, and yield. The symposium is going to be held as a virtual event. Access is free of charge.

Eventdatum: Donnerstag, 01. Juli 2021 14:00 – 18:00

Eventort: Online

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68199 Mannheim
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2020 NanoScientific Forum Europe (NSFE 2020) (Konferenz | Dublin)

2020 NanoScientific Forum Europe (NSFE 2020) (Konferenz | Dublin)

NanoScientific Forum Europe (NSFE) series is an open European AFM User Forum focusing on sharing and exchanging the cutting-edge research for both materials and life science disciplines using Atomic Force Microscopy (AFM).

The third NanoScientific Forum Europe  (#NSFE2020) will focus on nanoscale functional materials, such as organics, organic/inorganic hybrid semiconductors, nano- and biomaterials, as well as the development of novel nanometrology methods.


NSFE 2020
will be hosted by Prof. Kim McKelvey, School of Chemistry at Trinity College Dublin, and by Prof. Brian Rodriguez, School of Physics at University College Dublin.

TOPICS:

Application

  • Energy Storage
  • Nanophotonics and Nanoelectronics
  • Organic, inorganic and hybrid Semiconductors
  • Nanomaterials and Biotechnology
  • Special Session: Electrochemical & Electromechanical Properties in Functional Materials

Method:

  • Nanomechanical and Electrical Characterization
  • Characterization of soft materials in liquid environment
  • Advanced Imaging

 

An exciting agenda is planned for the 2.5 days:

  • Lectures by renowned AFM researchers
  • Instrument workshops on Park Systems AFMs, including basic and advanced measuring techniques as well as tips and tricks, how to obtain stunning AFM data
  • Poster session and image contest with amazing prizes!
  • Evening Program

 

Conference venue:

Science Gallery Dublin

Address:

Trinity College Dublin

Pearse St, Dublin 2, Ireland
https://dublin.sciencegallery.com/

Conference Contact:

Conference Organizer: Justyna Sliwa nsfe@parksystems.com

Eventdatum: 23.09.20 – 25.09.20

Eventort: Dublin

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